紫外(UV)レーザによる微細加工のタカノ株式會社

弊社では波長266nmのUVレーザを搭載した加工裝置、
マーキング裝置の販売および委託(受託)加工を承っております。
弊社獨自の波長変換技術で、24時間の稼動およびフィールドでのメンテナンスが可能です。

製品情報

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お知らせ

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2017.12.28

インターネプコン出展のお知らせ

さて、このたび弊社では第47回インターネプコンに弊社製品を出展緻します。
ぜひお立ち寄りいただきますようお願い申し上げます。

展示會名:第47回インターネプコン
會  期:2018年1月17日(水)・18日(木)・19日(金) 10:00~18:00 (最終日は17:00まで)
會  場:東京ビッグサイト(〒135-0063 東京都江東區有明3-11-1)
小間番号:E9-15 (東1ホール)

出展製品・PR:

①UVレーザマーカ/加工裝置
 難加工材への微細加工/マーキングに最適

②レーザーリフトオフシステム
 ※実機を展示します。

③半導體・電子デバイス向け検査裝置
■外観検査裝置 Vi シリーズ
■高さ検査裝置 Altax シリーズ


本展示に関するお問い合わせ、當日のアポイントなどは下記連絡先までご連絡ください。
擔當:松崎(Tel : 0265-85-4080)

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2017.10.18
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2017.08.04
SEMICON Taiwan 2017出展のお知らせ
2017.08.04
Information about SEMICON Taiwan 2017
2017.03.30

4/19-21 OPIE2017に出展します

2017/4/29-21

OPIE2017(Optics&Photonics International Exhibition)に出展いたします。
ぜひお立ち寄りいただきますようお願い申し上げます。

【會期】
2017年04月19日(水)~21日(金) 10:00-17:00

【會場】
パシフィコ橫浜 展示ホールA
小間番号:G28

【展示内容】
◆紫外(UV)レーザ-加工機/マーカ(パネル展示)
波長266nm/355nmの2種類の紫外(UV)レーザによる熱影響が少ない高品質な微細加工/マーキングが行えます。

◆デジタルフォログラフィ検査機(実機、パネル展示)
レンズやガラス等透明サンプルの表・裏・内部欠陥検査が出來、ラインセンサで高速インライン検査も可能。

◆ワンショット3D検査機(パネル展示)
光幹渉を応用した縞投影で、ミクロンレベルの高精度高さ計測や非拡散面の反り計測が出來る検査機を展示。

イベント公式サイトはこちら: https://www.opie.jp/index.jsp

ご來場を心よりお待ちしております。 

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アプリケーション(加工)例